新闻——如何利用X射线荧光分析提升镁矿石品位？

精确测量镁含量对于选矿、矿山勘探以及菱镁矿的质量评估和分级至关重要。先进的X射线荧光分析仪可为采矿业提供快速的现场元素组成数据，适用于地质岩芯取样、高镁含量石英砂分析以及镁矿分选技术。

X射线荧光光谱法该方法可在数秒内定量分析镁及其相关元素，且只需极少的样品制备。无损分析技术允许对固体或破碎矿石进行重复测试，从而提高矿石和资源建模中镁含量的测量精度。

镁矿石品位

菱镁矿开采和加工的工业工作流程

菱镁矿开采和加工整合了勘探、选矿、菱镁矿质量评估和分级等整个价值链环节。矿山勘探采用地质岩芯取样和地表测绘来确定富镁矿带的位置。详细的测绘工作可以确定矿体的几何形状和连续性。

勘探采用矿山勘探方法，结合地球物理勘测、高镁石英砂分析和化学化验，对菱镁矿床进行勘探。岩芯样品用于量化矿石品位变化，以便进行早期资源建模。

菱镁矿发现后，选矿方法（例如重力选矿、磁选、浮选和热分离）用于去除二氧化硅、铁或碳酸盐脉石。浮选药剂的创新以及热处理温度/时间的优化提高了回收率，尤其对于低品位矿石而言。目前的研究表明，采用综合方法可实现85%以上的回收率。

工业批次生产依赖于对矿石中镁含量的精确测量来进行工艺控制。先进的X射线荧光分析仪可用于采矿业，快速筛选给矿和精矿，从而指导工艺流程的调整。质量分级取决于对岩芯和加工后精矿中镁含量的精确测量，然后再用于下游工艺。

先进的镁矿提取技术

火法冶金技术，例如皮金法和碳热还原法，通过在矿物预处理后施加高温来提高镁的提取率。采用热法、机械法或化学法去除脉石可以提高回收率，尤其适用于传统上回收率较低的硅酸盐矿石。湿法冶金系统——酸浸、溶剂萃取、沉淀——需要精确的矿石成分数据来优化试剂用量、最大限度地减少杂质并提高工艺效率。电冶金提取，特别是熔盐电解，可实现90%以上的回收率，与传统工艺相比，可降低能耗并减少温室气体排放。利用Lonnmeter XRF矿物分析仪对高镁含量石英砂进行分析，可以定位二次镁源。这些用于采矿行业的先进XRF分析仪可提供ppm级的镁矿选矿方法，并推动菱镁矿的质量评估和分级。

矿石分选

矿石分选和矿物检测技术

镁矿分选技术可将高镁颗粒与脉石分离，从而提高精矿的整体品位和回收率。先进的X射线荧光（XRF）分析仪可用于采矿业，实现分选过程中的实时在线元素分析，去除不合格物料，减少废料处理。基于XRF的分选技术无需样品预处理即可检测镁含量，从而提高菱镁矿的开采和加工效率，优化选矿流程，并降低能源消耗。Lonnmeter XRF矿物分析仪具有ppm级灵敏度，可精确测定镁、二氧化硅和其他相关元素的含量。这最大限度地减少了镁的损失，提高了回收率，从而提升了镁矿开采、高镁石英砂分析以及菱镁矿质量评估和分级等各个环节的资源效率。与分选输送机的集成可确保持续的工艺优化、运营成本的降低以及品位控制的改进。

菱镁矿床勘探：方法和采样实践

镁矿地质岩芯取样可量化矿物分布、品位变化并估算储量。钻孔岩芯编录利用扫描电镜（SEM）、便携式X射线荧光光谱仪（XRF）和激光烧蚀电感耦合等离子体质谱仪（LA-ICP-MS）整合岩性、结构和菱镁矿化信息。例如，亚瑟河矿床的矿石段MgO含量高达43%，并具有明显的铁和硅分带特征。

高光谱成像和X射线岩芯扫描可实现连续矿物测绘，揭示成分变化和脉石共生关系。激光诱导击穿光谱（LIBS）可快速扫描岩芯，无需大量预处理即可记录元素变化。采样方案将每个岩芯一分为二：一半存档，一半分析。岩性间断处会调整标准间隔（通常为1-2米）。

最大限度地提高菱镁矿质量评估和分级

菱镁矿的质量评估和分级需要精确的元素分析，以满足下游产品的规格要求。X射线荧光（XRF）矿物分析仪，例如Lonnmeter，可以快速、现场定量分析镁、二氧化硅（SiO₂）、氧化铁（Fe₂O₃）、氧化铝（Al₂O₃）、氧化钙（CaO）以及痕量砷或铬的含量。坦桑尼亚菱镁矿矿床的XRF分析结果显示，MgO含量在43.21%至46.06%之间，其中SiO₂和CaO是影响其在耐火材料或先进陶瓷应用领域适用性的主要杂质。连续的元素分析有助于工艺控制；例如，煅烧结合干式高强度磁选降低了沙特阿拉伯菱镁矿中的杂质含量，从而得到品质更优的煅烧氧化镁。先进的XRF分析仪能够检测脉石元素并确认MgO的富集，从而简化采矿业菱镁矿的质量评估和分级流程，确保稳定的产量和最佳的市场价值。