ဒြပ်စင်ဖွဲ့စည်းမှုသည် တာဘိုင်ဓါး၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာအစွမ်းသတ္တိ၊ အောက်ဆီဒေးရှင်းခံနိုင်ရည်နှင့် အပူခံနိုင်ရည်တို့ကို တိုက်ရိုက်ဆုံးဖြတ်ပေးသည်။ Superalloys များသည် တိကျသောအချိုးအစားများပေါ်တွင် မူတည်သည်နီကယ်, ခရိုမီယမ်နှင့် ၁၀၀၀°C အောက်ရှိ ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံ တည်တံ့မှုအတွက် ကိုဘော့။ သတ္တုစပ်ဒြပ်စင်များတွင် ±၀.၁% ခန့် သွေဖည်မှုများသည် creep strength ကို ၁၅% ကျော် လျှော့ချနိုင်သည်။ စကန်ဒီယမ် (Sc) သည် SC 21 ဒြပ်စင်အခြေခံ သတ္တုစပ်များတွင် အဏုကြည့်ဖွဲ့စည်းပုံ အမှုန်အမွှား သန့်စင်မှုကို အကောင်းဆုံးဖြစ်စေပြီး ပင်ပန်းနွမ်းမှုသက်တမ်းနှင့် အပူချိန်မြင့်မားသော တည်ငြိမ်မှုကို မြှင့်တင်ပေးသည်။
ဝင်လာသော အစိတ်အပိုင်းများကို စစ်ဆေးခြင်း
*
ထုတ်လုပ်မှု အရည်အသွေး အာမခံချက်သည် ရှုပ်ထွေးသော airfoil profile များနှင့် ဖုံးကွယ်ထားသော အတွင်းပိုင်း အအေးပေးလမ်းကြောင်းများကြောင့် geometric ရှုပ်ထွေးမှုနှင့် ရင်ဆိုင်ရသည်။ သည်းခံနိုင်စွမ်းများသည် များသောအားဖြင့် <50 μm ရှိပြီး single-crystal သို့မဟုတ် directional solidified structures များသည် မည်သည့် composition မညီညွတ်မှုကိုမဆို အလွန်အမင်း ထိခိုက်လွယ်သည်။ စံ turbine blade စစ်ဆေးရေးနည်းစနစ်များသည် မျက်နှာပြင်နှင့် အတွင်းပိုင်း ပြန်လည်သုံးသပ်ရန်အတွက် မြန်ဆန်ပြီး ပျက်စီးခြင်းမရှိသော နည်းလမ်းများကို ပေါင်းစပ်ရမည်။ Micro-defects—20 μm အောက် အက်ကွဲကြောင်းများ သို့မဟုတ် porosity—များသည် သွန်းလောင်းခြင်း သို့မဟုတ် coating အတွင်း ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်သည်။ ပိတ်ဆို့နေသော အအေးပေးအပေါက်များ၊ မကြာခဏ <1 mm အချင်းသည် အအေးခံခြင်း မအောင်မြင်ခြင်းကို ရှောင်ရှားရန် အဆင့်မြင့် ချို့ယွင်းချက် ရှာဖွေတွေ့ရှိရန် လိုအပ်ပါသည်။ ပစ္စည်း တစ်သားတည်းဖြစ်မှုသည် မရှိမဖြစ် လိုအပ်ပြီး တစ်သားတည်းဖြစ်မှုသည် ပူပြင်းပြီး အစောပိုင်း ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုကို ဖြစ်စေသည်။
တာဘိုင်ဓါးများတွင် စကန်ဒီယမ် (Sc) ပါဝင်မှု အတည်ပြုခြင်း
အာကာသယာဉ်သုံး သတ္တုစပ်များတွင် စကန်ဒီယမ်သည် အရေးကြီးသော အမှုန်အမွှားများကို သန့်စင်ပေးပြီး၊ မောပန်းမှုဒဏ်ခံနိုင်ရည်နှင့် ဂဟေဆက်နိုင်စွမ်း ပိုမိုကောင်းမွန်လာစေရန်အတွက် အဏုကြည့်ဖွဲ့စည်းပုံကို မြှင့်တင်ပေးပါသည်။ ၎င်း၏ထူးခြားသော ဂုဏ်သတ္တိများကို အသုံးပြု၍ Sc ထပ်ထည့်ခြင်းသည် ဆန့်နိုင်အားကို မြှင့်တင်ပေးစဉ်တွင် အဆင့်မြင့်ဓာတ်ငွေ့တာဘိုင်များအတွက် ပေါ့ပါးသော တာဘိုင်ဓါးပြားဒီဇိုင်းများကို ပြုလုပ်နိုင်စေပါသည်။ Sc မှ အပူတည်ငြိမ်မှုသည် ဓါးပြားများကို အပူချိန်မြင့်မားစွာတွင် လုပ်ဆောင်နိုင်စေပြီး အလေးချိန်လျှော့ချခြင်းနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို အကောင်းဆုံးဖြစ်စေပါသည်။
Sc သတ္တုစပ်ဖြင့် သံချေးတက်ခြင်းနှင့် အောက်ဆီဒေးရှင်းခံနိုင်ရည်ရှိခြင်းတို့ကို သိသိသာသာတိုးတက်ကောင်းမွန်စေပြီး၊ လက်တွေ့စမ်းသပ်မှုများအရ ပြင်းထန်သောလည်ပတ်မှုပတ်ဝန်းကျင်များအောက်တွင် အစိတ်အပိုင်းသက်တမ်းများ တိုးချဲ့ထားကြောင်း ပြသနေပါသည်။ မကြာသေးမီက စက်မှုလုပ်ငန်းဒေတာများအရ တာဘိုင်ဓါးများရှိ Al-Sc သတ္တုစပ်များသည် စံအလူမီနီယမ်သတ္တုစပ်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုသက်တမ်း ၂၅-၄၀% တိုးလာကြောင်း အတည်ပြုပြီး လည်ပတ်မှုဘေးကင်းရေးအနားသတ်များကို တိုးမြှင့်နိုင်စေပါသည်။
တာဘိုင်ဓါးထုတ်လုပ်မှုတွင် အရည်အသွေးအာမခံချက်သည် CNC စက်ဖြင့်ပြုလုပ်ခြင်း၊ တိကျစွာပုံသွင်းခြင်းနှင့် မျက်နှာပြင်ကုသမှုများကို ပေါင်းစပ်ထားသည်။ ပစ္စည်းမညီညွတ်မှုများ၊ ခွဲခြားခြင်းနှင့် လုပ်ငန်းစဉ်ကြောင့်ဖြစ်ပေါ်လာသော အမှားများကို ကာကွယ်ရန်အတွက် လုပ်ငန်းစဉ်အဆင့်တိုင်းကို ပျက်စီးခြင်းမရှိသော ပစ္စည်းအတည်ပြုခြင်းဖြင့် ကျောထောက်နောက်ခံပြုထားသည်။ ပြည့်စုံသော တာဘိုင်ဓါးအရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုလုပ်ရိုးလုပ်စဉ်များသည် solid-state ပါဝင်မှုအတည်ပြုခြင်းအတွက် XRF alloy analyzer များကို အားကိုးနေရပြီး SC 21 အာကာသလုပ်ငန်းစံနှုန်းများနှင့်ကိုက်ညီစေရန် Scandium အဆင့်များကို မြန်ဆန်စွာ၊ ပျက်စီးခြင်းမရှိသော ဆုံးဖြတ်ချက်ချပေးပါသည်။ ဤလုပ်ဆောင်မှုများသည် တာဘိုင်ဓါးစမ်းသပ်နည်းလမ်းများအတွက် SC 21 ပါဝင်မှုဗျူဟာတွင် ခြေရာခံနိုင်သော ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်များနှင့် တင်းကျပ်သောလိုက်နာမှုကို ထိန်းသိမ်းထားပြီး ထိရောက်သော တာဘိုင်ဓါးစစ်ဆေးခြင်းနည်းစနစ်များနှင့် ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းဝယ်လိုအားကို တိုက်ရိုက်ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
စကန်ဒီယမ်ပါဝင်မှုအတွက် XRF အလွိုင်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း
Scandium ပါဝင်မှု အတည်ပြုခြင်းအတွက် XRF အဘယ်ကြောင့် မရှိမဖြစ်လိုအပ်သနည်း။
XRF သည် တာဘိုင်ဓါးအလွိုင်းများတွင် Scandium (Sc) ပါဝင်မှုကို တိုက်ရိုက်၊ ပျက်စီးခြင်းမရှိသော ပမာဏသတ်မှတ်နိုင်စေပါသည်။ တိုင်းတာမှုများတွင် အန္တရာယ်ရှိသော ဓာတုပစ္စည်းများ မလိုအပ်ဘဲ စက္ကန့်ပိုင်းအတွင်း ရလဒ်များကို ပေးစွမ်းနိုင်ပါသည်။ အဆင့်မြင့် XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာကိရိယာများသည် SC 21 အာကာသလုပ်ငန်းစံနှုန်းများနှင့် ကိုက်ညီမှုရှိမရှိကို သေချာစေသည့် 20 ppm အောက် ပါဝင်မှုများတွင် Scandium ကို ထောက်လှမ်းပေးပါသည်။ အလူမီနီယမ်၊ တိုက်တေနီယမ်နှင့် အခြားအလွိုင်းပါဝင်ပစ္စည်းများကို တစ်ပြိုင်နက်တည်း တိုင်းတာခြင်းသည် လုပ်ငန်းစဉ်ထိန်းချုပ်မှုတွင် မရေမရာမှုများကို ဖယ်ရှားပေးပါသည်။ Inline အသုံးပြုမှုသည် ထုတ်လုပ်မှုတွင် အချိန်နှင့်တပြေးညီ အတည်ပြုနိုင်စေပြီး အရေးကြီးသော တာဘိုင်ဓါးအစိတ်အပိုင်းများအတွက် အရည်အသွေးအာမခံချက်နှင့် ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
Lonnmeter XRF Alloy Analyzer ကို မိတ်ဆက်ခြင်း
Lonnmeter XRF Alloy Analyzer တွင် အစိုင်အခဲနမူနာများတွင် Scandium ထောက်လှမ်းမှုအတွက် မြင့်မားသော အာရုံခံနိုင်စွမ်းပါရှိပြီး တာဘိုင်ဓါးရွက် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုအတွက် အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ထားသည်။ ထောက်လှမ်းမှုအပိုင်းအခြားတွင် Sc (ppm–%)၊ Al၊ Ti နှင့် အခြားအရေးကြီးသော ဒြပ်စင်များ ပါဝင်သည်။ တိုင်းတာမှုစက်ဝန်းများသည် ပျမ်းမျှအားဖြင့် ၁၀ စက္ကန့်အောက်သာရှိသည်။ အနည်းဆုံးနမူနာပြင်ဆင်မှုသည် မူရင်းဓါးရွက်မျက်နှာပြင်များကို ထိန်းသိမ်းပေးသည်။ ဤကိရိယာသည် ခိုင်မာသောဒေတာမှတ်တမ်းတင်ခြင်းနှင့် တင်ပို့ခြင်းတို့ကို ပေါင်းစပ်ထားပြီး အသုတ်စစ်ဆေးမှုများကို လွယ်ကူချောမွေ့စေသည်။ ၎င်း၏အသုံးပြုသူမျက်နှာပြင်သည် အသုတ်စစ်ဆေးမှုများနှင့် အလိုအလျောက်လုပ်ရိုးလုပ်စဉ်များကို ပံ့ပိုးပေးသည်။ သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသောပုံစံသည် ဓာတ်ခွဲခန်း၊ ထုတ်လုပ်မှုဆဲလ်များ သို့မဟုတ် လယ်ကွင်းနေရာများတွင် လျင်မြန်စွာစမ်းသပ်နိုင်စေပါသည်။
တာဘိုင်ဓါးထုတ်လုပ်သူများနှင့် အရည်အသွေးအင်ဂျင်နီယာများအတွက် အကျိုးကျေးဇူးများ
Lonnmeter XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်သည် SC 21 ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်တစ်လျှောက် ခြေရာခံနိုင်စွမ်းကို မြှင့်တင်ပေးပြီး အာကာသယာဉ်ဆိုင်ရာ အကြောင်းအရာစီမံခန့်ခွဲမှုစံနှုန်းများနှင့် ကိုက်ညီစေသည်။ ၎င်းသည် တပ်ဆင်ခြင်းမပြုမီ ချို့ယွင်းနေသော သို့မဟုတ် ကိုက်ညီမှုမရှိသော ဓါးသွားများကို အလံပြခြင်းဖြင့် ထုတ်လုပ်မှုအလေအလွင့်များကို လျှော့ချပေးသည်။ မြှင့်တင်ထားသော ပွင့်လင်းမြင်သာမှုသည် ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်အကြောင်းအရာ မဟာဗျူဟာအတွင်း ဝယ်ယူမှုနှင့် စာရင်းစစ်ခြင်းကို အထောက်အကူပြုသည်။ အလိုအလျောက်စကင်ဖတ်ခြင်းသည် ရပ်တန့်ချိန်ကို လျှော့ချပေးပြီး တာဘိုင်ဓါးသွားစမ်းသပ်နည်းလမ်းများတွင် throughput ကို အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင်ပြုလုပ်ခြင်းနှင့် ထုတ်လုပ်မှုတွင် အရည်အသွေးအာမခံချက်တို့ကို အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင်ပြုလုပ်ပေးသည်။
Lonnmeter XRF Analyzer ဖြင့် Turbine Blade အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုကို အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင်လုပ်ဆောင်ရန် အဆင့်များ
စစ်ဆေးရေးလုပ်ငန်းစဉ်များတွင် ပေါင်းစပ်ခြင်း
Lonnmeter XRF Analyzer ကို ထုတ်လုပ်မှုအဆင့်များစွာတွင် ဖြန့်ကျက်ထားသည်။ ဝင်ရောက်လာသော အလွိုင်းအသုတ်များသည် Scandium နှင့် အဓိကအစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဒြပ်စင်အတည်ပြုချက်ကို ခံယူပြီး တာဘိုင်ဓါးပြား အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုလိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီကြောင်း သေချာစေသည်။ ထုတ်လုပ်မှုလိုင်းများရှိ အလိုအလျောက်လုပ်ရိုးလုပ်စဉ်များသည် SC 21 ဒြပ်စင်အဆင့်များတွင် သွေဖည်မှုများကို ထောက်လှမ်းကာ အစက်အပြောက်နှင့် အသုတ်အတည်ပြုချက်ကို လုပ်ဆောင်သည်။ နောက်ဆုံး QA အတွင်း၊ မြန်ဆန်ပြီး ပျက်စီးခြင်းမရှိသော စကင်န်ဖတ်မှုများသည် ဒြပ်စင်တူညီမှုကို အတည်ပြုသည်။ အချက်အလက်မှတ်တမ်းတင်ခြင်းသည် ခြေရာခံနိုင်မှုနှင့် စာရင်းစစ်ပံ့ပိုးမှုအတွက် ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်အကြောင်းအရာစီမံခန့်ခွဲမှုစနစ်နှင့် ပေါင်းစပ်ထားသည်။ မြင့်မားသောအာရုံခံနိုင်စွမ်းထောက်လှမ်းမှု (ppm-level) သည် တာဘိုင်ဓါးပြားထုတ်လုပ်မှုတွင် အရည်အသွေးအာမခံချက်ကို ထိန်းသိမ်းပေးသည်။
XRF အလွိုင်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအကြောင်း အသေးစိတ်အချက်အလက်များရယူရန် Lonnmeter ကို ဆက်သွယ်ပါ။ အတိုင်ပင်ခံပံ့ပိုးမှုသည် ထူးခြားသော တာဘိုင်ဓါးစမ်းသပ်နည်းလမ်းများနှင့် SC 21 ထောက်ပံ့ရေးကွင်းဆက်စီမံခန့်ခွဲမှုရည်မှန်းချက်များအပါအဝင် စိတ်ကြိုက်အလွိုင်းအတည်ပြုခြင်းလိုအပ်ချက်များကို ဖြေရှင်းပေးပါသည်။
မကြာခဏမေးလေ့ရှိသော မေးခွန်းများ (FAQs)
စကန်ဒီယမ်ပါဝင်မှုက တာဘိုင်ဓါးရွက်စွမ်းဆောင်ရည်ကို ဘယ်လိုအကျိုးသက်ရောက်စေသလဲ။
စကန်ဒီယမ်သည် အလူမီနီယမ်သတ္တုစပ်အမှုန်များကို သန့်စင်ပြီး Al₃Sc အမှုန်အမွှားများကို ဖွဲ့စည်းပေးသည်။ ၎င်းသည် အထွက်နှုန်းခိုင်ခံ့မှုနှင့် ခံနိုင်ရည်ကို တိုးစေသည်။ ပိုမိုသေးငယ်သော အဏုကြည့်ဖွဲ့စည်းပုံနှင့် နေရာရွေ့ပြောင်းမှုကို နှိမ်နင်းခြင်းကြောင့် ပင်ပန်းနွမ်းမှုသက်တမ်း တိုးလာသည်။ ပွတ်တိုက်မှုခံနိုင်ရည်သည် တိုးတက်ကောင်းမွန်လာပြီး အပူချိန်မြင့်မားသော ဝန်များအောက်တွင် ပုံသဏ္ဍာန်ပြောင်းလဲမှုများကို လျော့နည်းစေသည်။ ဂဟေဆက်နိုင်စွမ်း တိုးတက်လာပြီး အပူကြောင့်ကွဲအက်ခြင်းအန္တရာယ် ကျဆင်းသွားသည်။
တာဘိုင်ဓါးများတွင် Scandium အတည်ပြုခြင်းအတွက် XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို အသုံးပြုခြင်း၏ အကျိုးကျေးဇူးကား အဘယ်နည်း။
XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုသည် ppm အဆင့်အထိ မြန်ဆန်ပြီး ပျက်စီးခြင်းမရှိသော ဒြပ်စင်တိုင်းတာမှုများကို ပေးစွမ်းသည်။ ၎င်းသည် အာကာသယာဉ်အဆင့် သတ္တုစပ်များအတွင်းရှိ Scandium ပါဝင်မှုအတွက် မြင့်မားသောတိကျမှုကို ရရှိစေသည်။ တိုင်းတာမှုစက်ဝန်းများသည် စက္ကန့် ၃၀ အောက်ဖြစ်သည်။ နမူနာကို ဖျက်ဆီးခြင်း သို့မဟုတ် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် နမူနာပြင်ဆင်မှု မလိုအပ်ပါ။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၆ ခုနှစ်၊ ဖေဖော်ဝါရီလ ၂၅ ရက်
