A SiO₂, Na₂O, CaO, MgO, Al₂O₃, PbO és K₂O mennyiségi meghatározása szükséges a terméktulajdonságok pontos ellenőrzéséhez és a szabályozási megfeleléshez. A Lonnmeter XRF műszerek pontos, közvetlen méréseket biztosítanak ezen alapvető komponensek esetében.
A rutinszerű elemzés akár 0,01 tömegszázalékos eltéréseket is kimutat a főbb oxidok esetében, biztosítva, hogy a gyártók betartsák az üvegösszetétel elemeire vonatkozó céltartományt. A hibás Na₂O vagy CaO szintek megváltoztathatják a hőállóságot, az átlátszóságot és a tartósságot. A szigorú ellenőrzés minimalizálja a nem specifikációnak megfelelő szín vagy mechanikai hiba miatti tételsel szembeni selejtet.
XRF üvegelemzés
*
Üvegösszetétel: Elemek és anyagváltozatok
A kereskedelmi üveg több mint 70%-a szilícium-dioxidból (SiO₂) áll, amely szerkezeti merevséget és kémiai ellenállást biztosít. A szóda (Na₂O), jellemzően 12–15%-ban, csökkenti az olvadáspontot, javítva a gyárthatóságot. A mész (CaO), körülbelül 9–12%-ban, növeli a keménységet és a kémiai tartósságot. Az alumínium-oxid (Al₂O₃) 1–3%-ban növeli a mechanikai szilárdságot és javítja a hőstabilitást. A magnézium-oxidot (MgO) és a kálium-dioxidot (K₂O) kisebb mennyiségben használják a viszkozitás és a felületi tulajdonságok finomhangolására. Az ólom-oxid (PbO), ha 24% felett van jelen, magas törésmutatót és nagyobb sűrűséget biztosít, ami kritikus fontosságú az optikai és az ólomüveg esetében.
Az anyagváltozatokat az üvegösszetétel ezen elemei határozzák meg. A nátrium-mészüveg a globális termelésben dominál a kiegyensúlyozott mechanikai és kémiai tulajdonságai miatt. A boroszilikát üveg, amely 10–13% B₂O₃-t tartalmaz, alacsony hőtágulást tesz lehetővé, ami elengedhetetlen a laboratóriumi és konyhai alkalmazásokhoz. Az ólomüveg az optikai tisztaságot és ragyogást helyezi előtérbe az asztali eszközök esetében. Az alumínium-szilikát üveg a megnövelt Al₂O₂-tartalmú üveget helyettesíti az agresszív környezetben való tartósság érdekében. Minden üvegtípus teljesítménye az üveganyagok összetételének pontos szabályozásán múlik.
Olvasztott üveggyöngyök, üvegpelletek és porüveg
Az olvasztott üveggyöngyök nagyfokú homogenitást és minimális illékonyságot biztosítanak, így pontos eredményeket biztosítanak az üveggyártás XRF elemanalízisében. Az egységes mátrix kiküszöböli a mikroinhomogenitásokat, biztosítva a SiO₂, Na₂O, CaO, MgO, Al₂O₃, PbO és K₂O közvetlen mennyiségi meghatározását.
Az üvegpelletek megbízható referenciaanyagként és kalibrációs standardként szolgálnak az üveggyártás minőségellenőrzési folyamataiban. Lehetővé teszik a gyors összetétel-elemzést, és támogatják a tételenkénti eltérések vagy szennyeződések kimutatását a minőségbiztosítási/minőségellenőrzési laboratóriumokban. A pelletek megőrzik az üvegösszetétel lényeges elemeit, elősegítve a nyomon követhetőséget a gyártási sorozatok között.
A porüveg támogatja a bevonatok, csiszolóanyagok, vegyi anyagok keverését, újrahasznosítását, és elősegíti a gyors fúziót. Finom részecskemérete biztosítja a teljes elemi homogenizációt, ami elengedhetetlen a reprezentatív minta-előkészítéshez. A porüveg alkalmazásai kiterjednek mind a folyamat-, mind a termékfejlesztésre, lehetővé téve az üveganyagok összetételének pontos monitorozását és támogatva a közvetlen, precíz XRF-elemzést.
Üveggyár
*
Minőségellenőrzés az üveggyártásban
Az üveggyártás minőségellenőrzése a röntgensugár-elvű (XRF) vizsgálatra támaszkodik a többelemű vizsgálatokhoz, megerősítve a tételenkénti konzisztenciát és elkerülve a szennyeződéseket. A Lonnmeter röntgensugár-elvű rendszerek 60 másodpercen belül számszerűsítik a Si, Na, Ca, Mg, Al, K, Pb és más kritikus elemeket. A TXRF analitikai eljárások a főbb és nyomelemeket, például a Mn, Ni, Cu, Zn és Sr mennyiségét ppm alatti szinten is kimutatják.
A nyomelemek monitorozása megakadályozza a nem kívánt elszíneződést és mechanikai gyengeséget. Az Fe, Ti és Pb koncentrációk kimutatása elősegíti az optikai tisztaságot, és kiküszöböli a zárványok vagy feszültségpontok okozta kockázatokat. Az elemtérképezés, amelyet a fejlett XRF-CT és konfokális módszerek tesznek lehetővé, ellenőrzi a térbeli egyenletességet a síküvegen vagy öntöttüvegen, ami kulcsfontosságú a nagyméretű gyártáshoz.
A hordozható és beépített XRF eszközök automatizálják a gyors szkennelést, és az eredményeket valós idejű folyamatirányításba integrálják. Ez a megközelítés optimalizálja az üveggyártás minőségbiztosítását, támogatja a szigorú termékspecifikációt és az azonnali reagálást a folyamatbeli eltérésekre.
Azonosítási technikák és típusmegkülönböztetés
Az üvegazonosítási technikák típusai közé tartozik a röntgensugár-free spektrális ujjlenyomatvétel, a sűrűségmérések és a törésmutató-értékelés. Az röntgensugár-free spektrális ujjlenyomatvétel közvetlen, roncsolásmentes elemprofilozást biztosít az üvegösszetétel összes fő elemére, lehetővé téve a Si, Na, Ca, Mg, Al, Pb és K kimutatását 3% RSD alatti megismételhetőséggel. A sűrűségmérések segítenek megkülönböztetni az üveganyagok összetételét, a 2,2 g/cm³ (nátronmész) és a több mint 3,1 g/cm³ (ólomüveg) közötti tartományban. A törésmutató-értékelés pontosan elválasztja a nátronmész, a boroszilikát és az ólomüveget; a tipikus nD-értékek 1,51 és 1,70 között mozognak.
A statisztikai elemzés növeli az azonosítás pontosságát. A K-közép klaszterezés többelemes XRF adatkészletek alapján csoportosítja az üvegtöredékeket, ami 95% feletti forenzikus osztályegyezési arányt támogat. A szürke korrelációs analízis elkülöníti a tételek vagy variánsok közötti kisebb, de különálló összetételi eltolódásokat. A kemometriai modellek az üvegformákat (pl. olvasztott üveggyöngyök vs. porított üveg) elemi ujjlenyomat alapján osztályozzák, több mint 98%-os pontossággal, XRF adatokkal integrálva.
Minőségbiztosítás az üveggyártásban
Az üveggyártás minőségbiztosítása a gyors és pontos többelemű detektáláson alapul. Az in-line és laboratóriumi XRF analizátorok másodpercek alatt ellenőrzik az üveganyagok összetételét. A röntgenfluoreszcencia azonosítja a SiO₂-t, Na₂O-t, CaO-t, MgO-t, Al₂O₃-t, PbO-t és K₂O-t, támogatva az üvegösszetétel elemeinek és a tételek egyenletességének ellenőrzését.
Az iparági adatok szerint a röntgendiffrakció (XRF) akár 1 ppm kimutatási határértéket is elérhet a kisebb elemek esetében, lehetővé téve a tulajdonságokat vagy az esztétikát befolyásoló nyomnyi szennyeződések kimutatását. Az XRF bevezetése közvetlen visszajelzést tesz lehetővé a folyamatkorrekciókhoz, akár 15%-kal növelve a hozamot a szigorúan ellenőrzött gyártósorokon.
Az automatizált válogatás integrálódik a termelésbe, biztosítva az üveganyagok összetételének folyamatos ellenőrzését. Ez minimalizálja a tételenkénti eltéréseket, és kiküszöböli a specifikációtól eltérő termékeket. A többelemes szűrés elengedhetetlen az olvasztott üveggyöngyök, az üvegpelletek felhasználása és a porüveg-alkalmazások minőségének ellenőrzéséhez. Az átfogó helyszíni ellenőrzések csökkentik az állásidőt, és lehetővé teszik az azonnali korrekciót, támogatva a fenntartható termékminőséget.
Optimalizálja üvegelemzési munkafolyamatát
A Lonnmeter XRF analizátorok precíz mérést biztosítanak az üvegösszetétel szempontjából kulcsfontosságú elemekről: SiO₂, Na₂O, CaO, MgO, Al₂O₃, PbO, K₂O. Ezek a műszerek több elem detektálását kínálják az üveggyártás minőségbiztosítása és az olvasztott üveggyöngyök, üvegpelletek és porüveg gyors ellenőrzése érdekében. A fejlett üvegelemzéshez szabja testre...XRF gépaz üveggyártás és az azonosítási technikák sokféle követelményének támogatására.
Közzététel ideje: 2026. február 4.
