Ang pagkwenta sa SiO₂, Na₂O, CaO, MgO, Al₂O₃, PbO, ug K₂O gikinahanglan alang sa tukmang pagkontrol sa mga kabtangan sa produkto ug pagsunod sa mga regulasyon. Ang mga instrumento sa Lonnmeter XRF naghatag ug tukma ug direktang pagsukod niining mga importanteng sangkap.
Ang rutina nga pag-analisa makamatikod sa mga pagtipas nga ubos sa 0.01 wt% para sa mga mayor nga oxide, nga nagsiguro nga ang mga tiggama magpadayon sa target range para sa mga elemento sa komposisyon sa bildo. Ang depektoso nga lebel sa Na₂O o CaO mahimong makausab sa thermal resistance, katin-aw, ug kalig-on. Ang hugot nga pagkontrol makapakunhod sa batch rejection tungod sa off-specification nga kolor o mekanikal nga kapakyasan.
Pag-analisar sa XRF Glass
*
Komposisyon sa Bildo: Mga Elemento ug mga Baryante sa Materyal
Kapin sa 70% sa komersyal nga bildo gilangkoban sa silica (SiO₂), nga naghatag og kalig-on sa istruktura ug resistensya sa kemikal. Ang soda (Na₂O), kasagaran 12–15%, nagpaubos sa melting point, nga nagpauswag sa pagkagama. Ang apog (CaO), mga 9–12%, nagdugang sa katig-a ug kalig-on sa kemikal. Ang alumina (Al₂O₃) sa 1–3% nagpalambo sa mekanikal nga kusog ug nagpauswag sa thermal stability. Ang magnesia (MgO) ug potash (K₂O) gigamit sa mas gamay nga kantidad alang sa pag-fine-tune sa viscosity ug mga kabtangan sa nawong. Ang lead oxide (PbO), kung naa sa ibabaw sa 24%, naghatag usa ka taas nga refractive index ug mas dako nga densidad, nga hinungdanon alang sa optical ug lead glass.
Ang mga variant sa materyal gihubit niining mga elemento sa komposisyon sa bildo. Ang soda-lime glass ang nagdominar sa produksiyon sa tibuok kalibutan tungod sa balanse nga mekanikal ug kemikal nga mga kinaiya. Ang borosilicate glass, nga adunay 10–13% nga B₂O₃, nagtugot sa ubos nga thermal expansion, nga importante alang sa mga aplikasyon sa laboratoryo ug mga gamit sa pagluto. Ang lead glass nag-una sa optical clarity ug brilliance para sa mga tableware. Ang mga kapuli sa aluminosilicate glass nagdugang sa Al₂O₃ para sa kalig-on sa agresibo nga mga palibot. Ang performance sa matag klase sa bildo nagsalig sa tukma nga pagkontrol sa komposisyon sa mga materyales sa bildo.
Mga Fused Glass Beads, Glass Pellets, ug Powdered Glass
Ang mga fused glass beads nagtanyag og taas nga homogeneity ug gamay nga volatilization, nga naghatag og tukmang resulta sa XRF elemental analysis sa produksiyon sa bildo. Ang ilang makanunayong matrix nagwagtang sa micro-inhomogeneities, nga nagsiguro sa direktang pagkwenta sa SiO₂, Na₂O, CaO, MgO, Al₂O₃, PbO, ug K₂O.
Ang mga glass pellet nagsilbing kasaligang mga materyales nga reperensya ug mga sumbanan sa kalibrasyon sa mga proseso sa pagkontrol sa kalidad sa produksiyon sa bildo. Kini makapahimo sa paspas nga pag-analisar sa komposisyon ug mosuporta sa pag-ila sa mga kalainan sa batch o kontaminasyon sa mga laboratoryo sa QA/QC. Ang mga pellet nagpabilin sa mga importanteng elemento sa komposisyon sa bildo, nga nagpasiugda sa pagkasubay sa tibuok proseso sa produksiyon.
Ang powdered glass mosuporta sa mga pormulasyon para sa mga coatings, abrasives, chemical batching, recycling, ug mopasayon sa paspas nga fusion. Ang pino nga gidak-on sa partikulo niini mosiguro sa hingpit nga elemental homogenization, nga importante para sa representatibong pag-andam sa sample. Ang mga aplikasyon sa powdered glass molapad sa proseso ug pagpalambo sa produkto, nga nagtugot sa tukmang pagmonitor sa komposisyon sa mga materyales sa bildo ug mosuporta sa direkta ug tukma nga XRF analysis.
Pabrika sa Bildo
*
Pagkontrol sa Kalidad sa Produksyon sa Bildo
Ang pagkontrol sa kalidad sa produksiyon sa bildo nagsalig sa XRF para sa mga multi-elemental nga pagsusi, nga nagpamatuod sa batch-to-batch nga pagkamakanunayon ug paglikay sa kontaminasyon. Ang mga sistema sa Lonnmeter XRF nag-ihap sa Si, Na, Ca, Mg, Al, K, Pb, ug uban pang kritikal nga mga elemento sulod sa wala pay 60 segundos. Ang mga pamaagi sa pag-analisa sa TXRF nakamatikod sa mga mayor ug trace nga elemento, sama sa Mn, Ni, Cu, Zn, ug Sr, hangtod sa mga lebel nga sub-ppm.
Ang pagmonitor sa mga trace elements makapugong sa dili gusto nga kolor ug mekanikal nga kahuyang. Ang pag-detect sa Fe, Ti, ug Pb concentrations mosuporta sa optical clarity ug mowagtang sa mga risgo gikan sa inclusions o stress points. Ang elemental mapping, nga gihimo pinaagi sa advanced XRF-CT ug confocal methodologies, mo-verify sa spatial uniformity sa tibuok sheet o molded glass, nga importante para sa large-scale production.
Ang mga portable ug inline nga XRF device nag-automate sa paspas nga pag-scan, nga naghiusa sa mga resulta ngadto sa real-time nga pagkontrol sa proseso. Kini nga pamaagi nag-optimize sa pagsiguro sa kalidad sa paggama og bildo, nagsuporta sa estrikto nga espesipikasyon sa produkto ug diha-diha nga tubag sa mga pagtipas sa proseso.
Mga Teknik sa Pag-ila ug Pagkalainlain sa Tipo
Ang mga klase sa teknik sa pag-ila sa bildo naglakip sa XRF spectral fingerprinting, mga pagsukod sa densidad, ug pagtimbang-timbang sa refractive index. Ang XRF spectral fingerprinting naghatag direkta, dili makadaot nga elemental profiling alang sa tanan nga dagkong elemento sa komposisyon sa bildo, nga nagtugot sa pag-ila sa Si, Na, Ca, Mg, Al, Pb, ug K nga adunay pagkabalik-balik ubos sa 3% RSD. Ang mga pagsukod sa densidad makatabang sa pag-ila sa komposisyon sa mga materyales sa bildo nga adunay mga kalainan gikan sa 2.2 g/cm³ (soda-lime) hangtod sa sobra sa 3.1 g/cm³ (lead glass). Ang pagtimbang-timbang sa refractive index tukma nga nagbulag sa soda-lime, borosilicate, ug lead glass; ang kasagarang mga kantidad sa nD gikan sa 1.51 hangtod 1.70.
Ang pag-analisa sa estadistika nagpalambo sa katukma sa pag-ila. Ang K-means clustering naggrupo sa mga tipik sa bildo pinaagi sa multi-elemental XRF datasets, nga nagsuporta sa forensic class match rates nga labaw sa 95%. Ang Grey correlation analysis nagbulag sa gagmay apan lahi nga mga pagbag-o sa komposisyon tali sa mga batch o variant. Ang mga chemometric model nag-subclassify sa mga porma sa bildo (pananglitan, fused glass beads batok sa powdered glass) pinaagi sa elemental fingerprint nga adunay labaw sa 98% nga katukma kung gi-integrate sa XRF data.
Pagsiguro sa Kalidad para sa Paggama og Bildo
Ang pagsiguro sa kalidad sa paggama og bildo nagdepende sa paspas ug tukma nga pag-ila sa daghang elemento. Ang in-line ug laboratory XRF analyzers nag-verify sa komposisyon sa mga materyales sa bildo sulod sa pipila ka segundo. Ang X-ray fluorescence nag-ila sa SiO₂, Na₂O, CaO, MgO, Al₂O₃, PbO, ug K₂O, nga nagsuporta sa pagkontrol sa mga elemento sa komposisyon sa bildo ug pagkaparehas sa batch.
Sumala sa datos sa industriya, ang XRF nakab-ot ang mga limitasyon sa pag-detect hangtod sa 1 ppm para sa gagmay nga mga elemento, nga nagtugot sa pag-detect sa mga trace contaminants nga makaapekto sa mga kabtangan o aesthetics. Ang implementasyon sa XRF nagtugot sa direktang feedback para sa mga koreksyon sa proseso, nga nagdugang sa ani hangtod sa 15% sa hugot nga kontrolado nga mga linya.
Ang awtomatik nga pag-sort nahiusa sa produksiyon, nga nagsiguro sa padayon nga pag-verify sa komposisyon sa mga materyales sa bildo. Kini nagpamenos sa pagkalainlain sa batch-to-batch ug nagwagtang sa mga produkto nga wala sa espesipikasyon. Ang multi-element screening importante alang sa QA sa mga kalidad sa fused glass beads, paggamit sa glass pellets, ug mga aplikasyon sa powdered glass. Ang komprehensibo nga on-site nga mga pagsusi nagpamenos sa downtime ug nagtugot sa diha-diha nga pagtul-id, nga nagsuporta sa malungtarong kalidad sa produkto.
I-optimize ang Imong Workflow sa Pag-analisa sa Salamin
Ang mga Lonnmeter XRF analyzer naghatag ug tukmang pagsukod sa mga elemento nga importante sa komposisyon sa bildo: SiO₂, Na₂O, CaO, MgO, Al₂O₃, PbO, K₂O. Kini nga mga instrumento nagtanyag ug multi-element detection para sa garantiya sa kalidad sa paggama ug paspas nga pag-verify sa mga fused glass beads, glass pellets, ug powdered glass. Para sa abanteng pag-analisa sa bildo, i-customize ang imongMakina sa XRFaron masuportahan ang lainlaing mga kinahanglanon sa produksiyon sa bildo ug mga teknik sa pag-ila.
Oras sa pag-post: Pebrero 04, 2026
